Detalhes

Nome da Disciplina: TECNOLOGIA INDUSTRIAL BÁSICA

Carga Horária: 60

Créditos: 3

Obrigatória: Não

Fundamentos de metrologia. Avaliação de conformidade. Acordos de reconhecimento mútuo. Normalização. Fundamentos da propriedade industrial.

Normalização, Metrologia e Avaliação da Conformidade em 17 setores brasileiros: estudos de casos. "Projeto Sensibilização e Capacitação da Indústria em Normalização, Metrologia e Avaliação da Conformidade". Brasília/DF: CNI, 2000b. CNI; SENAI; INMETRO. Vocabulário de metrologia legal. A que se refere a portaria INMETRO n. 102, de 10 de junho de 1998. 2ª Ed. Brasília, DF: SENAI/DN, 2000b. DIAS, J. L. de Mattos; Medida normalização e qualidade; aspectos históricos da Metrologia no Brasil. Rio de Janeiro: INMETRO/Fundação Getúlio Vargas, 1998. Ilustrações, 292. FERRARI, Amílcar F. Pelúcio e a Pós-Graduação no Brasil. Brasília: Paralelo/CAPES, 2001. FROTA, M. N.; DIAS, M. J. L. Documento de Referência do PNM. Relevância Econômica e Social da Metrologia. Rio de Janeiro: 1998. GUIMARÃES, E. A.; JUNIOR, J. T. A.; ERBER, F. A política científica e tecnológica. Rio de Janeiro: JZE, 1985. CONMETRO. Plano Nacional de Metrologia. Documento Síntese Elaborado para o CONMETRO. Rio de Janeiro: CONMETRO, 1998a. Série Brasileira de Publicações em Metrologia. QUINN, T.J. Base Units of the Système International d'Unités, their Accuracy, Dissemination and Traceability. pp. 515-527, V.31, number 6. Special Issue on Physical Units, International Journal of Pure and Applied Metrology ("Metrologia"). Publication of the Bureau International des Poids et Mesures (BIPM). Feb., 1995. BIPM; National and International Needs Relating to Metrology, 1998. 132 pp. The BIPM and the Convention du Métre, 1995, 63 pp (reprinted 1997). Le Pavillon de Breteuil: Bref historique de 1672 à nos jours, 1991, 19 pp (reprinted 1998).